Dina sekretessinställningar

Genom att välja ”Acceptera alla” tillåter du att Rakuten Kobo och deras partners använder cookies, spårning och liknande teknologier för att samla in dina personuppgifter och behandla dem för följande ändamål: att driva webbplatsen och Kobos tjänster och se till att de fungerar korrekt, för att leverera personligt anpassat innehåll på Kobo samt annonser för Kobo på andra plattformar, och för att mäta analysdata och analysera hur vår webbplats och våra tjänster används. I annat fall kan du klicka på ”Avvisa” nedan för att avvisa alla icke-nödvändiga ändamål eller gå till ”Integritetsinställningar” för att hantera dina inställningar för varje ändamål. Mer information finns i vår Integritetspolicy.

Visa integritetsinställningar
Spring till huvudinnehåll
Önskelista
Kundvagn
Skapa konto
Har ett du konto?Logga in
Multilabel Classification - Problem Analysis, Metrics and Techniques E-bok av Francisco Herrera,Francisco Charte,Antonio J. Rivera,María J. del Jesus

Multilabel Classification

Problem Analysis, Metrics and Techniques

Francisco Herrera,Francisco Charte,Antonio J. Rivera,María J. del Jesus
Computer Science (R0)

Synopsis

Kategorier

Om den här boken

  • Språk:English
  • ISBN:9783319411118
  • Utgivningsdatum:23 aug. 2016
  • Utgivare:Springer International Publishing
  • Impressum:Springer
  • Filformat:EPUB2
  • Filstorlek:3.32 MB
  • Nedladdningsalternativ:EPUB2 (Adobe DRM)

I denna serie

Hoppa över den här listan

Multiple Instance Learning

Francisco Herrera,Sebastián Ventura,Rafael Bello,Chris Cornelis,Amelia Zafra,Dánel Sánchez-Tarragó,Sarah Vluymans