
Scanning Probe Microscopy
Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Synopsis
Om denne bog
- Sprog:English
- ISBN:9783662452400
- Udgivelsesdato:12. nov. 2017
- Udgiver:Springer Berlin Heidelberg
- Tryk:Springer
- Filformat:EPUB2
- Filstørrelse:7.70 MB
- Downloadmuligheder:EPUB2 (Adobe DRM)
































































